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第524章 专家研讨会2(2 / 2)

流密度与磁场角度的依赖关系。

曹旭按下翻页键,屏幕上出现一组极坐标图,曲线在零度到九十度之间的变化趋势标注得清清楚楚。

“自场下的临界电流密度,我们在77k液氮温度下测到了三百五十安培每厘米。

在垂直场方向,五特斯拉外场下,临界电流密度的衰减在百分之三十以内。

这个数据优于目前公开文献中的绝大多数结果。”

刘教授盯着屏幕上的曲线看了好几秒,然后慢慢点了点头。

提问的人越来越多,问题也越来越深。

从导层的钉扎机制,到带材的交流损耗,从接头的低阻焊接工艺,到失传播的主动检测方案。

有人问磁体绕制的层间绝缘,有人问冷却流道的热稳定裕度,有人问带材在电磁应力下的疲劳寿命。

曹旭站在投影幕布前,手里的遥控器偶尔按一下翻页,大部分时候都是面对着台下的人,直接用语言回答。

他脑子里装着露西娅六十好感度奖励的导物理与聚变工程核心知识框架,八十好感度奖励的紧凑型高温导磁体系统设计包,还有友好接触奖励的rep;三个奖励叠加在一起,覆盖了从材料到磁体到系统的全链条,每一个问题都在他的知识射程之内。

他甚至能从提问者的措辞里判断出对方的研究方向和研究深度,然后调整回答的侧重。

有人问到了他目前正在攻关的一个具体问题,曹旭不仅给出了自己的解决思路,还顺带提了两个国际上最新的研究进展,以及它们各自的优缺点。

提问的那位教授愣了一下,然后摘下眼镜擦了擦,又戴上,看曹旭的眼神都变了。

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